CA-6000 芯片自動耦（ǒu）合測試係統

CA-6000 芯片自動耦合測試係統由亞微米級高精度移動平台、高性能隔振係統、多方位視覺檢測係統構建而成。該係統采用（yòng）自主研發上位機軟件、融合圖像（xiàng）識別及人工智能（néng）算法，實（shí）現自動對光、自（zì）動壓接（jiē）探針卡等操作，中間過程無需人工（gōng）參與，大大（dà）提高測試效率及精確度，進一步為客戶降本（běn）增效（xiào）。