WIT-220 矽光晶圓測試探針台

WIT-220晶圓光電（diàn）測（cè）試探針係統綜合考慮穩定性、電噪聲（shēng）處理（lǐ）、空間布局等設計要（yào）求，采用精密運動控製係統，高性能隔振係統，結合自主研發圖像軟件算法，實現高穩（wěn）定性小模斑芯片光性（xìng）能（néng）和高精度電性能測試，能夠滿足高精度光測試指標（biāo）以及pA/nA微信號測量應（yīng）用要求，可提前在晶圓級別篩選不良芯片，防止流入後端工（gōng）藝，節約整體（tǐ）封測成本，提高研發以及（jí）生產效率。