半導體激光二級管可靠性老化測試係統

采用半導體激光器壽命和老化測試（shì）係統，可以減少測（cè）試（shì）成本，提高測試效率。係統包含40個可獨立加（jiā）溫及（jí）加載電（diàn）流的老化抽屜，最多可支持1280個器（qì）件的測試。您可以同時進行多個獨立的測試，提高產量，降低成本。此係統設計非常彈（dàn）性，允許您在一（yī）個係統（tǒng）測試多種不同的封裝形式，隻需更換不同的老（lǎo）化抽屜即可。係統支（zhī）持ACC和LIV測（cè）試，每（měi）一個通道的電流典型值為200mA，可最大定製到2000mA輸出。