WIT-220AL全自動（dòng）晶（jīng）圓光電測試係統綜合考（kǎo）慮穩定性、電噪聲處理、空（kōng）間布局等設計要求，采用精密（mì）運動控製係統，高性能隔振（zhèn）係統，結合自主研發圖像軟件算法，實現高（gāo）穩（wěn）定性小模斑（bān）芯片光性（xìng）能和高精度電性能測（cè）試，支持全自動晶圓光柵耦合或者端麵耦（ǒu）合測試，能夠滿足高精密光測試指標以及pA級別電信號測量應用需（xū）求。可提前（qián）在晶圓級別篩選不（bú）良芯片，防止流入（rù）後（hòu）端工藝，大幅度節約整體封測成（chéng）本，提高生產（chǎn）效率。目前已批量（liàng）在國內外客戶產線量產應用。