始終把客戶放在第一位,為客戶(hù)提供(gòng)卓越服(fú)務(wù)體驗
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始終(zhōng)把客戶放在第一位(wèi),為客戶(hù)提供卓越服(fú)務體驗
擁有成(chéng)熟量產級矽光封測係統集成及(jí)應(yīng)用經驗
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WAT-226高(gāo)功率晶(jīng)圓測試係統采用密閉腔體形式,將運動構件、製熱構件、製冷構件以及(jí)測試使用的晶(jīng)圓卡盤、探針台、探針臂(bì)等部(bù)件(jiàn)集中在密閉腔體中,構建安(ān)全、穩定的功率器件晶圓級(jí)測試環境,滿足高溫、低溫、高壓(yā)、高流等(děng)極端條件的安全測試要(yào)求(qiú),保(bǎo)護器件不被氧化(huà)、結露、結霜、電弧擊穿等物理破(pò)壞及汙染。
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〇 支持Si、SiC、GaN、金剛石等高壓半導(dǎo)體測試領域
〇 真空度: < 1E-4Torr
〇 耐壓:10 kV
〇 高電流:>1200A
〇 控溫範圍:-55ºC ~ 300ºC(支持定製(zhì)更寬範圍)
〇 高真空低形(xíng)變腔體設計
〇 可選配高電壓、高電流探針
〇 可(kě)選配端到(dào)端測試解決方(fāng)案服務
〇 支持手動、半自動、全自動開發
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產品應用
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