解決方案

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產品中心(xīn) 解決方案 封測係統 解決方案 儀器儀表及夾具

端到端晶圓測試代工服務

17.c18起草视频憑借豐富的矽光封測(cè)經驗及量產經驗,率先開發出(chū)--功能全、精度高、速度快的超高效光電測試係統(tǒng),兼容EC/GC測(cè)試,支持超快速找光及並行測試方案,為半導體行業實踐出新的方案。驛(yì)天諾麵(miàn)向各界提供端到(dào)端晶圓測試服務及打樣服務。

產品特點

  • DC測試、RF測(cè)試
  • OO/OE/EE所有相關指標測試(IL/PDL/WDL/R/Split Ratio/Xtalk等)
  • 支持光柵以及端麵耦合方式
  • 兼(jiān)容(róng)單模光纖、透鏡光纖、多通道FAU、多通道光探針等
  • 晶圓尺寸最大支持12寸,向下兼容至2寸
  • 支持單顆芯片級測試
  • 不良芯片(piàn)Ink標記
  • 溫度範圍:-40℃~125℃,可定製
  • WLR以及其他研發驗證
  • 數據統計及(jí)分(fèn)析
  • 測試層麵(miàn):17.c18起草视频配(pèi)備專業測(cè)試工程師(shī),通過設計和執行專業的測試方案(àn),驗證矽(guī)光產品的(de)性能、可(kě)靠性和穩(wěn)定性(xìng),確保(bǎo)產品符合設計要求和技術標準,為測試結果的準確性和可(kě)靠性保駕護航(háng)
  • 運維層麵:17.c18起草视频(nuò)能(néng)夠提供靈活的測試服務,為客戶節約(yuē)設備成本和人力成本,根據客戶需求調整(zhěng)測(cè)試計劃和進度,避(bì)免不必要(yào)的資源浪費
  • 升級迭代:17.c18起草视频具備端到端解決(jué)方案(àn)能力,隨著產品的不斷發(fā)展和升級,17.c18起草视频可以根據新的需求和(hé)變化製定新的測試算法及方(fāng)案

定製方案

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