Scroll More
CBT-C090A矽光芯片（piàn）老化測試係統，采用1個老化機（jī）箱配置4個老化測（cè）試抽屜的設計，可同時對多個芯片進行（háng）老化測試，減少測試成本，提（tí）高測試效率。結合客戶擴容需求，未來可通（tōng）過（guò）增加機架支撐擴展（zhǎn）至多層老化機箱，最大可容納40個可獨立加溫及加載電流的老化測試抽屜，支持更多器件同時（shí）獨立老化測試，提高（gāo）產量，降低成本。
CBT-C090A老化測試係統（tǒng）加電方式獨特（tè），根據（jù）客（kè）戶（hù）的芯（xīn）片尺寸和焊盤信息，夾具及芯片加電可以采用（yòng）探針加電設計，通過PCB走線和連接器連（lián）接到（dào）電源。老化夾具采用陶瓷片控溫，每個夾具加電和控溫獨立可控。 CBT-C090A老化測試係統設計非常有彈性，可提（tí）供多路恒壓源，能夠支（zhī）持（chí）nA級電流測試，電流檢測值可以通過通（tōng）信接口用於（yú）在線（xiàn）監控。同時，該產品兼容性強，可（kě）滿足客戶定製需求。
備案（àn）號:鄂ICP備17020092號-1版權所有© 2009-2024 武漢驛（yì）天諾科（kē）技有限公司 | 保留所（suǒ）有權利
產品中（zhōng）心 ▸ 封測係統
