封測(cè)係統

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LHX-305-COC 激光(guāng)器老化係統

采用LHX-305-COC半導體激光器壽命老化係統,可以減少測試成本,提高測(cè)試效率。目前係統(tǒng)包含1個老化機箱及1個老化(huà)測試抽屜,可同時對(duì)32顆CW芯(xīn)片進(jìn)行獨立加電老化。結合用戶擴容需求,目前(qián)結構上按照1個老化機箱及4個老化測試抽屜設(shè)計,未來可通過增加機架支撐擴展至多層老化機箱,最大可容納40個可獨立(lì)加溫(wēn)及加載電流的老化測試抽屜,同(tóng)時支持(chí)1280個器件的老化。用戶可以同時進行多個獨立的老(lǎo)化,提高產量(liàng),降(jiàng)低成本。

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 高密度,最高可同時老化1280支激光器
  • 溫度控製範圍從40°C到150°C
  • 電(diàn)流以芯片為單位輸出
  • 支持TO、蝶形、COC及定(dìng)製封裝(zhuāng)
  • 探針間距(jù)300µm(可支持(chí)定製至150µm)
  • 每(měi)通道電流源(yuán)獨立,範圍可達到500mA
  • 電流模式:ACC、熱插拔,操(cāo)作(zuò)簡便,數據管理安全可(kě)靠
  • 模塊化設計,便於擴展

產品應用

LHX-305-COC的係統(tǒng)設計非常彈性,允許您在一個係(xì)統測試多(duō)種不同的封裝形式,隻需更換不(bú)同的老化測試抽(chōu)屜即可。係統支持ACC獨立老化,每(měi)一個通道的電流(liú)典型值為500mA。Reliability Sys軟件可以幫助您更加快捷的進行測試。您可以方(fāng)便的配置多種器件類型和測試方式,軟件自動分析、保存及導出(chū)測試結果,提供多(duō)種報錯模式處理,不需要客戶進行任何(hé)額外的編程,即使掉電也不(bú)會影響到數據的完整(zhěng)性。也可以將數據導入到csv文件中,通過其它軟件分析。

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