WIT-220AL全自動晶（jīng）圓（yuán）光電測試係統（tǒng）綜合考慮穩定性、電噪聲處理（lǐ）、空間布局等設計要求，采用精密運動控製係統，高性能（néng）隔振係統，結合自主研發（fā）圖像軟件算法，實現高（gāo）穩定性（xìng）小模斑芯片光（guāng）性能和高精（jīng）度電性能測試，支持全（quán）自動晶圓光柵耦合或者端麵耦合測試，能夠滿足高精（jīng）密（mì）光（guāng）測（cè）試指標以及pA級別電信號測量（liàng）應用需求。可（kě）提前在晶圓級別（bié）篩選不良芯片，防止流入後端工藝，大幅度節約整體封測成本，提（tí）高生產效率。目前已批量在國內（nèi）外（wài）客戶產線量產應用。