晶（jīng）圓測（cè）試係統 - 武（wǔ）漢驛（yì）天諾科技有限公司

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晶圓測試係統

全自動（dòng）晶圓缺陷檢測係統

WI-6500AL全自動晶圓缺（quē）陷檢測係統由自（zì）動化上下料係統、視覺（jiào）檢測（cè）係統、控製軟件等組成，支持25片晶圓（yuán）的自動缺陷檢測。該係統可檢測晶圓盒中晶圓數（shù）量和位置，快速...

全自動晶圓缺（quē）陷檢測係（xì）統

全自（zì）動（dòng）晶圓光電測試係統（tǒng）

WIT-220AL全自動晶（jīng）圓光電測試係統綜（zōng）合（hé）考慮穩定性、電噪聲處理、空間布局等設計要求，采用精密運動控製係統，高（gāo）性能隔振係統，結合自主研發圖像軟件算（suàn）法（fǎ），實現高穩...

全自動晶圓光電（diàn）測試係統（tǒng）

高功率晶圓測試係統

WAT-226高功率晶圓測試（shì）係統采用密閉腔體形式，將運動構件、製熱（rè）構件、製冷構件（jiàn）以及測試使用（yòng）的晶圓卡（kǎ）盤、探針台、探（tàn）針臂（bì）等部件集中在密閉腔體中，構建安全、穩定的功...

高功率晶圓測試（shì）係統

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